alpha300 S

alpha300S – Imágenes que Traspasan el Límite de Difracción

  • El Microscopio  Óptico de Campo Cercano (SNOM) alpha300S combina en un mismo sistema, de manera única, las ventajas de SNOM, Microscopía Confocal y Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). El cambio entre los diferentes modos de operación se puede realizar fácilmente girando la rueda de objetivos. El alpha300S utiliza sensores micro-fabricados (SNOM cantilevers) únicos en el mercado, para conseguir una resolución óptica que sobrepasa el límite de difracción.

    El Microscopio Óptico de Campo Cercano alpha300S de WITec trabaja con un sistema motorizado (Inertial Drive), especialmente diseñado simplificar el uso de la aplicación.

    El Inertial Drive se monta en el revolver del microscopio, acoplándolo a un objetivo óptico, proporcionando fácil acceso al SNOM o al AFM. Los sensores micro-fabricado de SNOM se fijan, magnéticamente, en el extremo del brazo del sistema motorizado, lo que permite la observación simultánea del cantilever y la muestra. Debido a que el sistema motorizado permite mover el brazo de forma tridimensional, el cantilever se puede ajustar fácilmente con rapidez y precisión. Los  movimientos son controlados por software, el que también proporciona rutinas de alineamiento convenientes. El objetivo no sólo enfoca el láser de excitación, sino también el láser de deflexión para el control de la fuerza de interacción entre la muestra y el cantilever. El sistema garantiza una óptica extraordinariamente estable, mediciones con bajo ruido y sin interferencia entre los dos láseres.

    Usando los cantilever estándar de AFM, el Microscopio alpha300S tiene las mismas capacidades de un sistema alpha300A.

  • alpha300S transparent

Características

    • Resolución espacial más allá del límite de difracción (ca. 60 nm lateralmente)
    • Técnica de sensores cantilevers SNOM, con patente exclusiva de WITec
    • Facilidad de uso tanto en aire como en líquidos
    • Varios modos de microscopía de fuerza atómica incluidos
    • Técnica de imagen no destructiva con una preparación mínima de la muestra y en la mayoría de los casos sin ninguna preparación.
    • Puede combinarse con sistema de Imágenes Raman Confocal en el mismo microscopio

Ejemplos de aplicación

  • alpha300S surface plasmon
  • alpha300S chromosomes
    .

Especificaciones

  • Modos de Operación SNOM

    Modos de Microscopía Óptica de Campo Cercano de Barrido (SNOM):

    • Iluminación superior, permite recolección por transmisión (utilizando microscopio invertido) y/o recolección lateral (para muestras opacas)
    • Iluminación lateral, permite recolectar con el microscopio superior (por ejemplo, para aplicaciones en guías de onda o en el estudio de plasmones)
    • Iluminación inferior (utilizando el microscopio invertido), permite recolección por transmisión utilizando el microscopio superior
    • Adquisición de Curvas de Fuerza Distancia y Curvas de Luz-Distancia
    • Combinación SNOM-AFM: Acepta (opcionalmente) todos los modos de operación del alpha300A
    • Permite la iluminación inferior en un punto fijo de la muestra (opcional)
    • Permite iluminación por reflexión total interna (opcional)

     Modos de Microscopía Confocal (CM):

    • Transmisión
    • Reflexión
    • Fluorescencia (opcional)
  • Características del Microscopio

    • Microscopio Óptico de Investigación, con revolver para 6 objetivos.
    • Sistema de Video: Cámara de video CCD
    • Fuente de iluminación blanca LED para iluminación Koehler sobre la punta y la muestra
    • Cámara de video B/N de alta sensibilidad para observar la muestra y cantilever de SNOM (o AFM) por transmisión
    • Posicionamiento manual de la muestra en direcciones x-y, rango de 25 mm
    • Base de Microscopio con sistema de aislación activa de vibraciones.
    • Mesa de barrido piezoeléctrica (rango de barrido 100 x 100 x 20 µm3; otros opcionales)

    Tamaño de Muestras

    • Usualmente 120 mm en dirección x-y, 25 mm em altura (adaptadores para mayores alturas disponibles)

    Interfase Computacional

    • Software WITec Suite que permite tanto el control del instrumento y de las mediciones como la evaluación y procesamiento de lo datos adquiridos

Extensiones & Combinaciones

Literatura

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