alpha300 RA

alpha300RA – Combinación de Imágenes Químicas y Estructuras Nanométricas en un Solo Instrumento

  • La reconocida combinacion de Raman-AFM (alpha300RA) fue el primer sistema del mercado en integrar Raman con Microscopía de Fuerza Atómica y continúa estableciendo el estándar para instrumentos configurados para microscopía correlativa de Raman con AFM. El microscopio alpha300RA incorpora las características del microscopio Raman alpha300R, para la generación de imágenes con sensibilidad química, en conjunto con un microscopio de Fuerza Atómica (alpha300A) para la caracterización de la superficie con resolución nanométrica. Así, la correlación de imágenes Raman con AFM, facilita el estudio en profundidad de las muestras.

    Con el alpha300RA, las dos técnicas de imágenes complementarias, se encuentran disponibles en un solo instrumento, sin comprometer funcionalidades, y son controlados por un único software, lo que lo convierte en un sistema más confiable y fácil de usar.

    Alternar entre cada una de las técnicas de imágenes sólo requiere un giro en la rueda de objetivos, con esto, todos los parámetros de la imágen se ajustan automáticamente permitiendo fácilmente el estudio sobre la misma región de la muestra, con ambas técnicas. El software también permite sin esfuerzo, correlacionar y sobreponer los resultados de Raman con AFM.

    Además, el diseño del apha300RA es ideal para mediociones TERS (Raman-AFM de alta resolución)

  • alpha300RA AFM Mode transparent

Características

    • Todas la características del alpha300R (Raman) y del alpha300A (AFM) se encuentran disponibles en un sólo instrumento
    • Excelente combinación para la caracterización detallada de la superficie a escala nanométrica (AFM) con imágenes químicas (Raman)
    • Ideal para mediciones simultáneas de Raman y AFM
    • Totalmente correlativo: no es necesario desplazar la muestra entre las medidas
    • Conveniente intercambio entre las técnicas de medición, sólo requiere rotación de la rueda de objetivos

Ejemplos de aplicación

  • alpha300RA Raman AFM polymers
     
    • alpha300RA Raman AFM paper
    • alpha300RA Raman AFM stress in silicon

Especificaciones

  • Modos Generales de Operacion Raman

    • Imágenes espectrales Raman: Adquisición de un espectro Raman completo en cada pixel de la imagen.
    • Adquisición de espectros Raman en un punto individual
    • Series temporales
    • Perfil de profundidad sobre un punto (1D)
    • Imágenes planas (dirección x-y) y barridos en profundidad (dirección x-z) con posicionamiento automático de la muestra (2D)
    • Image Stack: Generación de imágenes Raman Confocales en 3D.
    • Espectrómetro UHTS, acoplados con fibra óptica, específicamente diseñados para microscopía Raman y aplicaciones con baja señal luminosa
    • Microscopía Confocal de Fluorescencia
    • Microscopía de Campo Brillante

    Modos Generales de Operación AFM

    • Modo contacto
    • Modo Acústico (Tapping Mode)
    • Modo de Fuerza Pulsada (DPFM)
    • Microscopía de Doble Paso (Lift Mode™)
    • Microscopía de Fuerza Magnética (MFM)
    • Microscoípa de Fuerza Eléctrica (EFM)
    • Imágenes de Fase
    • Curvas de Fuerza Distancia
    • Litografía y Nano-manipulación (DaVinci)
    • Microscopía de Fuerza Lateral (LFM)
    • Microscopía de Fuerza Química (CFM)
    • Modo de Sensibilidad de Corriente
    • Otros Modos Opcionales

    Características Básicas del Microscopio

    • Microscopio Óptico de Investigación, con revolver para 6 objetivos.
    • Sistema de Video: Cámara de video CCD
    • Fuente de iluminación blanca LED para iluminación Koehler sobre la punta y la muestra
    • Posicionamiento manual de la muestra en direcciones x-y, rango de 25 mm
    • Acoplamiento con fibras ópticas
    • Mesa de barrido piezoeléctrica (rango de barrido 100 x 100 x 20 µm3; otros opcionales)
    • Base de Microscopio con sistema de aislación activa de vibraciones
  • Modos Opcionales de Operación Raman (Upgrades)

    • Láseres adicionales, amplia variedad de longitudes de onda disponibles
    • Espectrómetros UHTS adicionales (UV, VIS, NIR, IR)
    • Automatización, posicionamiento motorizado de la muestra y medición con mesa de barrido piezoeléctrica, distancia máxima de desplazamiento de 25 mm (50 mm opcional)
    • Obtención de imágenes Raman automatizadas de 25 x 25 mm² (50 x 50 mm² opcional)
    • Mediciones de múltiples puntos y múltiples áreas automatizados
    • Imágenes Raman Ultra rápidas (1300 espectros por segundo) opcionalmente disponible
    • Upgrade para aplicaciones de epi-fluorescencia
    • Permite adaptadores para muestras de mayor altura
    • True Surface para perfil de profundidad con Raman
    • Autofoco

    Interfase Computacional

    • Software WITec Suite que permite tanto el control del instrumento y de las mediciones como la evaluación y procesamiento de lo datos adquiridos.

    TERS:

    El alpha300RA de WITec es el único sistema de microscopía que combina las técnicas de Raman y AFM en un sólo instrumento, esto lo convierte en un instrumento optimizado para experimentos TERS.

    Las ventajas del WITec en TERS

    • Integración única de las técnicas Raman-AFM por un sólo fabricante para realizar experimentos TERS confiables.
    • Flexibilidad en la iluminación de la muestra (iluminación superior, iluminación lateral o iluminación inferior)

Literatura

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