alpha300 S

alpha300 S – Bildgebung jenseits der Beugungsgrenze

  • Das alpha300 S ist ein benutzungsfreundliches Nahfeld-Mikroskop (SNOM), das die Vorteile von SNOM, konfokaler Mikroskopie und Rasterkraftmikroskopie (AFM) in einem einzigen Gerät vereint. Der Wechsel zwischen den verschiedenen Mikroskopietechniken erfolgt einfach durch die Drehung des Objektivrevolvers. Das alpha300 S verwendet spezielle SNOM-Cantilever-Sensoren, die eine räumliche Auflösung jenseits der Beugungsgrenze ermöglichen.

    Das alpha300 S von WITec arbeitet mit einem speziellen Nahfeld-Objektiv. Es ist am Objektivrevolver angebracht und ermöglicht SNOM- und AFM-Messungen. Die SNOM-Sensoren werden magnetisch an einem Ende des Objektivarms befestigt, so dass man simultan den Sensor sowie auch die Probe sehen kann. Da der Arm dreidimensional beweglich ist, lässt sich der Cantilever schnell und präzise justieren. Alle Bewegungen werden über die WITec Control Software gesteuert. Das Objektiv fokussiert nicht nur den Anregungslaser, sondern auch den für die Distanzkontrolle benutzten abgelenkten Laserstrahl. Die stabile Optik garantiert rauscharme Messungen ohne Interferenz zwischen den beiden Lasersystemen. Mit AFM-Cantilever-Sensoren lässt sich das alpha300 S auch als Rasterkraftmikroskop verwenden.

  • alpha300S

Charakteristische Eigenschaften

    • Räumliche Auflösung jenseits der Beugungsgrenze
    • Einzigartige, patentierte SNOM-Sensoren-Technologie
    • Anwendung in gasförmiger Umgebung und in Flüssigkeiten
    • Inklusive verschiedener AFM-Modi
    • Zerstörungsfreie, bildgebende Technik; keine oder nur minimale Probenvorbereitung nötig
    • Gerät erweiterbar mit konfokalem Raman Imaging für korrelative Mikroskopie

Anwendungsbeispiele

  • alpha300S surface plasmon
    SNOM-Bild einer Oberflächen Plasmon-Polaritonwelle, ausgelöst an einem nano-strukturierten Metallgitter.
  • alpha300S chromosomes
    SNOM-Bild menschlicher Metaphase-Chromosomen.

Spezifikationen

  • SNOM Techniken

    • SNOM-Modi: von unten nach oben und umgekehrt, Sammelmodus
    • Konfokale Mikroskopie-Modi:
      • Transmission
      • Reflektion
      • Fluoreszenz (optional)
      • SNOM-AFM-Kombinationen: AFM-Modi des alpha300 A inbegriffen oder optional
      • Erfassung von Kraft-Kurven und Licht-Abstands-Kurven
      • fixierte Belichtung von unten
      • Interne Totalreflektions-Mikroskopie (optional)
  • Mikroskop-Eigenschaften:

    • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
    • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
    • LED-Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der Mikroskopspitze
    • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Darstellung der Probe und der SNOM-Spitze in Transmission
    • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
    • Mikroskopbasis mit aktivem Vibrations-Isolations-System
    • Piezo-getriebener Probentisch, Scanbereich 200 x 200 x 20 μm³ (andere Scanbereiche erhältlich)

    Probengröße:

    • Standard 120 mm in x- und y-Richtung, 25 mm in der Höhe (Adapter für höhere Proben erhältlich)

    Software Oberfläche:

    • WITec Software Suite zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

Erweiterungen & Kombinationen

Literatur

Kontakt

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