alpha300 A

alpha300 A - Charakterisierung der Oberfläche im Nano-Maßstab

  • Das WITec Rasterkraftmikroskop alpha300 A ist ein zuverlässiges, hochwertiges Nano-Imaging-System, das in ein optisches Forschungsmikroskop integriert wurde. Es bietet eine hervorragende optische Darstellung der Proben, eine einfache Justierung des Cantilevers und eine hochauflösende Probencharakterisierung.

    Die Rasterkraftmikroskope von WITec wurden so entwickelt und gestaltet, dass eine Kombination mit anderen bildgebenden Mikroskopietechniken möglich ist. Dazu gehören: Lumineszenz, Fluoreszenz, Polarisation, Hellfeld, Dunkelfeld, SNOM und Raman Imaging. Alle Verfahren können in ein Gerät integriert werden. Der Wechsel zwischen den Techniken erfolgt denkbar einfach durch Rotation des Objektivrevolvers.

  • alpha300A

Charakteristische Eigenschaften

    • Charakterisierung der Oberfläche im Nanometer-Maßstab
    • Laterale Auflösung: bis zum 1 nm
    • Tiefenauflösung: < 0.3 nm
    • Breites Spektrum an AFM-Modi
    • Nutzerfreundlicher Probenzugang aus jeder Richtung
    • Anwendung in gasförmiger Umgebung und in Flüssigkeiten
    • Einzigartige Cantilever-Technik für  komfortable Justierung und einfachen Austausch des Cantilevers
    • Präzise TrueScan™ kontrollierte Scantische, wählbare Scanbereiche 30 x 30 x 20 µm³; 100 x 100 x 20 µm³ oder  200 x 200 x 20 µm³
    • Zerstörungsfreie, bildgebende Technik mit minimaler Probenvorbereitung
    • Gerät kann zusätzlich mit Raman Imaging und optischem Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) ausgestattet werden

Anwendungsbeispiele

  • alpha300A topography woodlouse
    AFM-Topografie von Calciumcarbonat-Ablagerungen auf der Brust einer Kellerassel (Porciellio scaber).
  • alpha300A magnetic force mode hard drive
    Magnetkraftmikroskopie einer Computerfestplatte. Die Messungen wurden im AC-Modus mit magnetischen Spitzen durchgeführt. 
  • WITec AFM Bacteria
    Fossile Bakterien, abgebildet im Digitalen Pulsed Force Modus. Das Bild zeigt unterschiedliche Adhäsionskräfte zwischen AFM-Spitze und Probenoberfläche.

Spezifikationen

  • AFM Techniken:

    • Kontakt-Modus
    • AC-Modus (Tapping Mode)
    • Digitaler Pulsed Force Modus (DPFM)
    • Lift Mode™
    • Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy, MFM)
    • Elektrische Kraftmikroskopie (Electric Force Microscopy, EFM)
    • Phasenbild
    • Kraft-Abstands-Kurven
    • Nano-Manipulation/Lithografie
    • Reibungskraftmikroskopie (Lateral Force Microscopy, LFM)
    • Chemische Kraftmikroskopie (Chemical Force Microscopy, CFM)
    • Strom-Spannungsmikroskopie
    • andere Modi  optional

    Mikroskop Eigenschaften:

    • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
    • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
    • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung der Probe und der Mikroskopspitze
    • Hochempfindliche schwarz/weiß-Kamera zur Darstellung der Probe und der AFM-Spitze in Transmission
    • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
    • Piezo-getriebener Probentisch, Scanbereich 200 μm x 200 μm x 20 μm (andere Scanbereiche erhältlich)
  • AFM-Cantilever:

    • Trägheit-getriebene Cantilever-Mechanik für AFM-Sensoren
    • Verwendung der meisten kommerziell erhältlichen AFM-Cantilever möglich

    Sensoren:

    • AFM-Sensoren, Typ Acoustic AC Modus: mit Reflexbeschichtung, vormontiert auf magnetischen Ringen
    • AFM Sensoren, Typ Kontakt-Modus: mit Reflexbeschichtung, vormontiert auf magnetischen Ringen
    • Verwendung der meisten kommerziell erhältlichen AFM-Sensoren möglich

    Probengröße:

    • Standard 120 mm in x- und y-Richtung, 25 mm in der Höhe (Adapter für höhere Proben erhältlich)

    Software Oberfläche:

    • WITec Software Suite zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

Erweiterungen & Kombinationen

Literatur

Kontakt

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