AFM

原子力显微镜(AFM)

  • WITec AFM Principle
  • 原子力显微镜(AFM)基于超尖锐的悬臂探针与样品之间的相互作用,获得样品表面原子级高分辨的形貌。AFM可以同时获得样品的横向与纵向空间信息。除高分辨的表面形貌信息,AFM探针与样品之间的力学相互作用同时反映出材料的局域力学性质,如粘附力和硬度等。

WITec公司的 alpha300 A原子力显微镜

  • WITec公司的 alpha300 A原子力显微镜基于研究级光学显微镜而设计,是一款可靠、高端的纳米成像系统,同时具有卓越的光学接入、简易悬臂定位与原子级高分辨率。采用高精度陶瓷扫描台及样品台扫描方式,AFM探针获得样品表面形貌图像。

    该AFM采用光学显微镜配备高端相机,有助于高分辨率的样品挑选与测量。 同时观测样品与AFM探针非常有利于样品定位及扫描区域调整。光学显微镜可实现更多的照明及检测方式, 如明暗场,偏光分析及宽场荧光等, 用户可以进一步挑选感兴趣的样品区域。用户只需旋转物镜轮塔,就可以在AFM与光学显微镜之间轻松切换, 依旧保留光学显微镜与AFM性能。

  • WITec AFM BeamPath
  • WITec AFM Sample Cantilever View

数字脉冲力模式

  • 数字脉冲力模式(DPFM)是一种非共振的间歇接触模式。 该模式不仅可以避免接触模式中探针对柔软样品表面的损失, 同时还可以获得更多材料信息。

    数字脉冲力模式(DPFM)已成AFM的常规模式,大大扩展了原子力显微镜在材料纳米力学性质方面的探测, 如粘附力、刚度、黏度、能量耗散、接触时间与长程力等。该模式的扫描速度与接触或轻敲模式相当,测量频率高达几千像素。

    数字脉冲力模式采用高速数据采集的电子线路,自由编译的调整发生器及实时数据分析模式。 数据保存后,可进行大量的数据分析与后处理。

  • DPFM
  • WITec DPFM curves

AFM与其他显微技术联用

  • WITec 系统的模块化设计可将不同的成像技术融于一台仪器中,如拉曼成像、荧光、明暗场照明、原子力显微镜 (AFM) 以及近场光学显微镜(SNOM 或 NSOM),从而进行更全面的样品分析。通过旋转物镜轮塔,可在不同模式之间轻松切换。

  • 拉曼与AFM

    通过将共聚焦拉曼成像与 AFM 结合,可以很容易地将样品的化学性质与表面形貌结构对应起来。WITec推出的alpha 300RA拉曼-AFM联用显微镜通过这两种互补技术,可以实现灵活、全面的样品表征与分析。

    TERS (针尖增强拉曼光谱)就是拉曼-AFM显微镜联用的一个典型应用。

  • WITec Raman AFM polymer blend cleavage

WITec AFM 成像系统

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