TrueSurface

Awards Summaryskaliert

TrueSurface法

試料形状に沿ったラマンイメージング

1パスでラマンと表面形状を測定

 

 

WITecの特許であるTrueSurface法は,試料の表面形状に沿ってラマンイメージングを行うことができます.

われわれが開発したTopographic Raman Imagingは,ラマン装置に光学形状測定器を組み込み,1パスでラマンと表面形状を測定することができます.

Structured Silicon TrueSurface

Topographic Raman microscopy image of micro-structured silicon.

Tablet TSM3

Topographic Raman microscopy image of a pharmaceutical tablet with corresponding spectra.


 

TrueSurface法原理

粗い表面,傾いた試料や不規則な形状をした試料を,特殊な試料表面処理をすることなしに,ラマン測定走査をすることができます.

 

 共焦点顕微鏡では,焦点以外からの入射光はピンホールで大幅にカットされます.TrueSurfaceモジュールにより走査中試料の形状に関係なく,試料表面に焦点を維持します.

 

光学センサーが,試料と対物レンズの距離をサブミクロン精度で,距離制御を行います.これにより,長時間の積算時間を要する測定においても正確な距離制御が行われ,シャープな画像を得ることができます.

TrueSurface Confocality

 
TrueSurface Mk3 EXTRZucker freigestellt

Topographic Raman microscopy image

of indented text on a glucose energy stick.

TrueSurface Mk3 Businesscard freigestellt

Topographic Raman microscopy image of cellulose fibers of paper.

文献資料

参考文献のページへ

Contact

Please fill in all data fields to ensure we can process your inquiry as quickly as possible.

個人情報保護:
'WITecは,サイトから得られるどのような個人情報も尊重いたします.入力された個人情報につきましては,御請求の範囲内で適切に使用いたします.