TrueSurface

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TrueSurface Mikroskopie

Topographisches Raman Imaging

Chemische Analyse und Profilometrie in einem Durchgang

 

Die patentierte und prämierte TrueSurface Option für das konfokale Raman Imaging von WITec hält die Probe während der Messung immer im Fokus.

 

Raman-Mikroskopie mit Nachführung entlang der Topografie der Probe ist eine Entwicklung von WITEc. Ein in das Mikroskop integriertes Profilometer tastet die Oberfläche während der Messung ab.

 

 

 

 

 

 

Structured Silicon TrueSurface

Topograpfisches Raman-Bild von mikrostruktruriertem Silizium.

Tablet TSM3

Topographisches Raman-Bild einer pharmazeutischen Tablette und die zugehörigen Spektren.


 


 

Das TrueSurface Prinzip

Die chemische Charakterisierung in drei Dimensionen auf oberflächlich rauen oder zerklüfteten und auch verkippten Proben kann jetzt ohne aufwändige Präparation präzise auf oder in einem definierten Abstand zur Oberfläche durchgeführt werden.

Konfokale Mikroskopie zeichnet sich durch eine starke Unterdrückung von Licht aus, dessen Urspung außerhalb der Fokusebene liegt. Das TrueSurface-Model erlaubt es, selbst große und stark unregelmäßige Proben während der Messung permanent im Fokus zu halten.

 

Der Sensor kontrolliert den Probenabstand permanent und hält ihm mit sub-Mikrometer-Genauigkeit. So können auch Veränderungen während Langzeitmessungen ausgeglichen werden.

TrueSurface Confocality

 
TrueSurface Mk3 EXTRZucker freigestellt

 

Topografisches Raman-Bild einer Inschrift auf einem Zuckertäfelchen.

TrueSurface Mk3 Businesscard freigestellt

Topografisches Raman-Bild von Zellulosefasen (Papier).

Literatur

Zur Literatur

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