alpha300 RA

alpha 300 RA - Chemische Mikroskopie und Oberflächen-Imaging in einem System

Die Raman-AFM-Kombination alpha300 RA war das erste integrierte Raman-AFM-System am Markt und noch immer setzt es Maßstäbe für kombinierte Raman-AFM-Instrumente. Das alpha300 RA vereint die Fähigkeiten des Raman-Mikroskopsystems alpha300 R  mit denen des Rasterkraftmikroskops alpha300 A. Die Kombination des leistungsstarken chemischen Imaging mit hochauflösender Oberflächendarstellung ermöglicht eine umfassende Probenanalyse.

Mit dem alpha300 RA sind zwei komplementäre Imaging-Techniken in einem Instrument kompromisslos vereint worden. Im Sinne der Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit werden beide Betriebsmodi von einer Software gesteuert. Durch Drehen des Objektivrevolvers kann man zwischen den Imaging-Techniken wechseln. Dabei werden alle Parameter automatisch justiert, so dass man denselben Probenbereich mit beiden Techniken untersuchen kann. Die Software ermöglicht eine mühelose Korrelation zwischen Raman- und AFM-Resultaten und Überblendung der Bilder.

Das alpha300 RA ist außerdem ideal für kombinierte Imaging-Techniken wie TERS (hochauflösendes Raman-Imaging) oder gleichzeitige Raman-AFM-Messungen.

alpha300RA AFM Mode 024 neu

Charakteristische Eigenschaften

  • Alle Funktionen der Mikroskoptypen alpha300 R (Raman) und alpha300 A (AFM) in einem Instrument
  • Exzellente Kombination umfassender Oberflächenanalyse im Nanometerbereich (AFM) mit chemischem Imaging (Raman)
  • Ideal für kombinierte Techniken wie simultane Raman-AFM-Messungen
  • Praktischer Wechsel zwischen den Messtechniken durch Rotation des Objektivrevolvers
  • Bewegung der Probe zwischen den Messungen nicht nötig

Anwendungsbeispiele

alpha300RA Raman AFM polymers

Kombinierte Raman-AFM-Messung eines Polymers.

alpha300RA Raman AFM paper

Konfokale Raman-AFM-Bilder: Holzextrakte auf Zellulosefasern. Farbkodiertes Raman-Bild mit eingeblendetem AFM-Bild.

alpha300RA Raman AFM stress in silicon

 

Kombinierte Raman-AFM-Messung von Spannung in Silizium. Links: 10 x 10 µm² AFM-Bild mit Topografie und Tiefenprofil (unten). Rechts: Raman-Bild von demselben Probenbereich zeigt Spannung im Silizium.

 

Spezifikationen

Raman-Betriebsarten:

  • Raman-Spektral-Imaging: Aufnahme eines vollständigen Raman-Spektrums an jedem Bildpixel
  • Planare Scans (x-y-Achsen) sowie Tiefenscans (z-Achse)
  • Bildstapel: 3D konfokales Raman-Imaging
  • Zeitreihen
  • Raman-Spektrenaufnahmen an Einzelpunkten
  • Tiefenprofile an Einzelpunkten
  • Ultraschnelles Raman-Imaging (1300 Spektren pro Sekunde) optional erhältlich
  • Konfokale Fluoreszenz-Mikroskopie
  • Hellfeld-Mikroskopie
  • Dunkelfeld-Mikroskopie, Phasenkontrast-Mikroskopie und DIC optional
  • Aufrüstung für EPI-Fluoreszenz-Anwendungen möglich

 

AFM-Betriebsarten:

  • Kontakt-Modus
  • AC-Modus (Tapping Mode)
  • Digitaler Pulsed Force Modus (DPFM)
  • Lift Mode™
  • Magnetkraftmikroskopie (Magnetic Force Microscopy MFM)
  • Elektrische Kraftmikroskopie (Electric Force Microscopy EFM)
  • Phasenbild
  • Kraft-Abstands-Kurven
  • Nano-Manipulation/Lithografie
  • Reibungskraftmikroskopie (Lateral Force Microscopy LFM)
  • Chemische Kraftmikroskopie (Chemical Force Microscopy CFM)
  • Strom-Spannungsmikroskopie
  • andere Modi optional

Mikroskop-Eigenschaften:

  • Optisches Forschungs-Mikroskop mit 6x Objektivrevolver
  • Videosystem: Okular-Farbbild-Videokamera
  • LED Weißlichtquelle für Köhler'sche Beleuchtung
  • Hochempfindliche schwarz/weiß-Videokamera zur Ansicht der Probe und der SNOM/AFM-Spitze in Transmission
  • Manuelle Positionierung der Probe in x- und y-Richtung
  • Mikroskopbasis mit Schwingungsisolierung
  • Piezo-getriebener Probentisch, Scanbereich 200 x 200 x 20 μm³ (andere Scanbereiche erhältlich)

Probengröße:

  • Standard 120 mm in x- und y-Richtung, 25 mm in der Höhe (Adapter für höhere Proben erhältlich)

Computer-Schnittstelle:

  • WITec Software zur Kontrolle des Geräts und der Messungen, zur Datenevaluation und -verarbeitung

TERS:

Das alpha300 RA Mikroskopsystem von WITec, das Raman- und AFM-Techniken in einem Gerät kombiniert, kann für TERS-Experimente eingesetzt werden. Die Beleuchtung kann flexibel gestaltet werden: von oben, unten oder von der Seite.

Literatur

  • Solutions for High-Resolution Confocal Raman Microscopy

    PDF öffnen
    (3.3 MB)
  • WITec alpha300 Brochure

    PDF öffnen
    (7.2 MB)
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