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WITec 技术

WITec显微镜专注于无损纳米分析技术,如拉曼成像、原子力显微镜和扫描近场光学显微镜。基于我们在共聚焦拉曼显微镜与扫描探针显微镜方面长期积累的专业经验, 持续不断和积极创新研发新成像技术,并确保最佳性能和长期可靠性。

无论您是对标准技术还是对联用技术感兴趣,WITec 都拥有公认的最佳高分辨率成像技术。

 

我们的关键技术有:

共聚焦拉曼成像:鉴定样品化学成分的光谱技术。

原子力显微镜 (AFM):样品形貌与表面特性可视化的高分辨率成像技术。

扫描近场光学显微镜 (SNOM):超越衍射极限分辨率的光学成像技术(60–100 nm 的横向分辨率)。

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